H схему металлографического микроскопа

h схему металлографического микроскопа
Штатив микроскопа — основная конструкция, на которой крепится оптическая часть. Для нормального глаза при удалении от объекта на т. н. расстояние наилучшего видения (D = 250 мм), среднестатистическое нормальное разрешение составляет 0,176 мм. При эквализации гистограммы расстояние ∆gi между уровнями gi и gi+1 различно, но число пикселов на каждом уровне, в среднем, одинаковое и равно no. Однако главное преимущество УФ-микроскопов заключается в том, что частицы многих веществ, прозрачные в видимом свете, сильно поглощают УФ-излучение определенных длин волн и, следовательно, легко различимы в УФ-изображениях. Изменение интенсивности излучения γ-лучей, прошедших через деталь, регистрируются индикатором интенсивности. На участках с нарушением сплошности металла γ-лучи, проходя через металл, ослабляются меньше, что и позволяет выявить дефекты.


Плоскопараллельная пластинка 4 и призма пол­ного отражения 7 служат для изменения направления световых лу­чей. План 1. Основные методы исследования и контроля структуры металлов и сплавов. 2. Макроскопический анализ. Она контролируется в результате технологических испытаний, проводимых в условиях, максимально приближенных к производственным. Чтобы отличить микропоры от включений, шлиф слегка выводят из фокуса, поворачивая микрометрический винт микроскопа, и снова наводят на фокус; при этом края микропор, в отличие от неметаллических включений, то сходятся, то расходятся.

Микроструктуру литых металлов и сплавов (в фасонных отливках) проверяют в различных сечениях отливки — от самых больших до минимальных, так как такие участки обычно охлаждаются с различной скоростью, а структура многих литейных сплавов, например чугуна или бронзы, зависит от скорости охлаждения. Это стеклянные пластинки, на которые нанесены шкала, п Механизм пластической деформации монокристаллов Межатомные силы в кристаллических телах складываются из электростатических сил притяжения и отталкивания. Величина h0 — глубина внедрения индентора в испыту­емый образец под действием предварительной нагрузки P0 (см. При установке объекта и наблюдении в окуляр за изображением объекта следят с помощью зеркала 1. Рис. 27. Фотокамера микроскопа. Лаковый метод. На поверхность образца наносят каплю очищенного 1 %-ного раствора коллодия в амилацетате. С вертикально поставленного шлифа снимают излишек раствора. Кроме того, традиционные механические характеристики материала (предел пропорциональности, предел текучести, предел прочности, относительное удлинение и др.) являются интегральными характеристиками всего испытуемого образца материала и зависят от формы образца и условий испытаний.

Похожие записи: